双波段发射率测量仪

米兰体育:2022-07-20 浏览次数:988

仪器设备档案卡


仪器名称
  双波段发射率测量仪
仪器型号
  IR-2
生产厂家
  上海诚波光电技术科技有限公司
购置日期
  2022.8.9
放置地点

仪器
  正常
技术参数


  1.测量波段:1~22μm  3~5μm  8~14μm  

  2.发射率测量范围:0.1~0.99

  3.灵敏度:0.001

  4.示值误差:±0.02 (>0.50)

  5.重复性:±0.01

  6.样品温度:常温~600℃

  7.样品尺寸:∮35 mm

  8.测量时间:3秒后按轻触开关E,即显示测量值。

  9.显示方法:LED数字显示,末位0.001

  10.电   源:交流220V 50HZ


功能特色


  主要特色:

  IR-2双波段发射率测量仪是中科院科研人员在获国家发明专利ZL 91107415“一种现场测量发射率的方

  法”研究,以及获上海市1997年科技进步二等奖“是一种高精度测量常温~600℃物体红外发射率的方法

  和装置”,在第一代“IR-1发射率测量仪”的基础上,经不断改进、研制成功的红外材料发射率测定专用

  仪器。


  主要功能

  1.军用武器装备红外隐身材料的研究测试。

  2.红外烘烤高发射涂层材料的研究测试。

  3.建筑材料、保温材料及涂层材料及纸张等红外发射率研究测试。

  4.纺织行业掺杂红外材料保温纺织品的红外发射率研究测试。