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双波段发射率测量仪
米兰体育:2022-07-20 浏览次数:988
仪器设备档案卡
仪器名称 |
双波段发射率测量仪 |
仪器型号 |
IR-2 |
生产厂家 |
上海诚波光电技术科技有限公司 |
购置日期 |
2022.8.9 |
放置地点 |
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仪器工作状态 |
正常 |
技术参数 |
1.测量波段:1~22μm 3~5μm 8~14μm 2.发射率测量范围:0.1~0.99 3.灵敏度:0.001 4.示值误差:±0.02 (>0.50) 5.重复性:±0.01 6.样品温度:常温~600℃ 7.样品尺寸:∮35 mm 8.测量时间:3秒后按轻触开关E,即显示测量值。 9.显示方法:LED数字显示,末位0.001 10.电 源:交流220V 50HZ
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功能特色 |
主要特色: IR-2双波段发射率测量仪是中科院科研人员在获国家发明专利ZL 91107415“一种现场测量发射率的方 法”研究,以及获上海市1997年科技进步二等奖“是一种高精度测量常温~600℃物体红外发射率的方法 和装置”,在第一代“IR-1发射率测量仪”的基础上,经不断改进、研制成功的红外材料发射率测定专用 仪器。
主要功能 1.军用武器装备红外隐身材料的研究测试。 2.红外烘烤高发射涂层材料的研究测试。 3.建筑材料、保温材料及涂层材料及纸张等红外发射率研究测试。 4.纺织行业掺杂红外材料保温纺织品的红外发射率研究测试。
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